Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S
Метод рентгеновской дифрактометрии предназначен для качественного, количественного и кристаллографического анализа (типы и количества компонентов, типы и константы кристаллических решеток, степень кристаллизации и др.) и основан на облучении образца рентгеновскими лучами и измерении интенсивности рассеянного излучения.
<br> Применяется для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленности, экологии и др.
<br> XRD-7000 использует многоцелевой «тета-тета»-гониометр для анализа различных образцов, в т.ч. крупных изделий для оценки распределения напряжений в автомобильной промышленности.
Все функции прибора контролируются программным обеспечением в оболочке Windows NT/2000.
<br> Дополнительное оборудование:
<br> Применяется для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленности, экологии и др.
<br> XRD-7000 использует многоцелевой «тета-тета»-гониометр для анализа различных образцов, в т.ч. крупных изделий для оценки распределения напряжений в автомобильной промышленности.
Все функции прибора контролируются программным обеспечением в оболочке Windows NT/2000.
<br> Дополнительное оборудование:
- противомонохроматор для снижения фона и улучшения параметров качественного анализа (особенно для образцов Fe);
- 1-позиционный автоматический держатель образцов;
- система поликапиллярной оптики, обеспечивающая параллельный рентгеновский пучок высокой интенсивности и принципиальное улучшение соотношения пик/фон
- приставка для нагрева образцов в ходе измерений до 1200оС;
- автономная система водяного охлаждения
| Рентгеновская трубка | Cu, типа NF/BF, 2 или 3 kW |
| Источник питания | 3 kW, стабильность ± 0,01%, 60 kV |
| Гониометр | Вертикальный, типа θ-θ, радиус 200 – 275 мм |
| Сцинтилляционный счетчик | NaI, 500 – 1200 V |
| Размеры корпуса, вес | 1120Ш х 1049Д х 1790В мм, 530 кг |
