Сканирующий зондовый микроскоп Интегра

ИНТЕГРА Прима – НаноЛаборатория, поддерживающая все основные методики АСМ. Может быть сконфигурирована для проведения узкоспециализированных исследований.

ИНТЕГРА Прима, созданная для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических и химических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением.
Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования.
  • Емкостные датчики перемещения с низким уровнем собственного шума
  •  Высокое качество изображений
  • Исследования со скоростью вплоть до 40 Гц
  • Проведение измерений на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости
ИНТЕГРА Прима помогает решить широкий спектр задач.
Области применения ИНТЕГРА Прима охватывают практически все направления современной науки и техники:
  • Полупроводники
  • Полимеры
  • Органические Пленки
  • Запоминающие среды
  • Нанообработка
  • Биология
  • Нанобиотехнология
  • Материаловедение
  • Магнитные Материалы
  • Наноматериалы и наноструктуры

Технические характеристики:
Тип сканированияСканирование образцом Сканирование зондом*
Размер образца До 40 мм в диаметре, 
до 15 мм в высоту
До 100 мм в диаметре,
до 15 мм в высоту
Вес образца До 100 г  До 300 г
XY позиционирование образца 5x5 мм5x5 мм
Разрешение позиционирования  5 мкмминимальное перемещение - 2 мкм5 мкмминимальное перемещение - 2 мкм
Поле сканирования 100x100x10 мкм
3x3x2,6 мкм

100x100x10 мкм
50x50x5 мкм
Нелинейность, XY
(с датчиками обратной связи)
0.1% 0.15% 
 
Время генерации: 0.0747 сек., 0.0082 из этого заняли запросы.