Измерения с использованием сертифицированного оборудования

Рентгеновский дифрактометр XRD-7000. Шимадзу (Япония)
  • Определение параметра кристаллической решетки
  • Определение размеров микрокристаллитов путем оценки областей когерентного рассеяния
  • Определение фазового состава пробы
  • Количественное определение известных фаз в смеси
  • Кристаллография - уточнение структуры кристаллов
  • Проведение анализа с использованием высокотемпературной камеры от 300 до 1500 К
  • Анализ поверхности и тонких пленок
  • Анализ текстуры
Спектрофотометр UV-3600 Шимадзу (Япония)
  • Измерение спектров оптического поглощения в диапазоне 180-3300 нм от -6 до +6 единиц оптической плотности
  • Измерение спектров оптического пропускания в диапазоне 180-3300 нм
  • Измерение спектров диффузного отражения в диапазоне 240-800 нм с использованием интегрирующей сферы
  • Измерение дихроизма поглощения в диапазоне 240-800 нм
Спектрофлуориметр RF-5301PC Шимадзу (Япония)
  • Измерение спектров фотолюминесценции в диапазоне спектра 220-900 нм
  • Измерение спектров оптического возбуждения в диапазоне 220-900 нм
  • Измерение степени поляризации люминесценции в диапазоне 220-900 нм
ИК-Фурье спектрометр IRAffinity-1 Шимадзу (Япония)
  • Измерение спектров оптического поглощения в диапазоне от 7800 до 350 см-1 с разрешением 0.5 см-1
  • Измерение спектров оптического поглощения тонких пленок материалов
Сканирующий зондовый микроскоп "Solver-47P" (NT-MDT)
  • Трёхмерные измерения линейных размеров элементов структур, микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред
  • Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур методами атомно-силовой микроскопии.
  • Измерения параметров и характеристик объектов микро и нанотехнологий методами сканирующей зондовой микроскопии.
  • Создание микро- и нано- изображений на поверхности твердых тел (нанолитография).
  • Образовательные услуги для школьников и студентов в классе, оборудованном приборами Наноэдюкатор.
 
 
Время генерации: 0.0766 сек., 0.0100 из этого заняли запросы.